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基礎信息Product information

產(chǎn)品名稱:梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平

產(chǎn)品型號:

更新時間:2024-08-19

產(chǎn)品簡介:

專業(yè)為中國區(qū)用戶提供梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平儀器設備、測試方案、技術培訓、維修服務

產(chǎn)品特性Product characteristics

    專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上海)測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,由堅JET和融YOO兩位技術工程師于2011年共同創(chuàng)立,志在破舊立新!*測試測量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務銷售,不專業(yè)做售前測試方案,不專業(yè)做售后使用培訓的空白。我們的技術銷售工程師均為本科以上學歷,且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗,專業(yè)為中國區(qū)用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修服務,為上海華東地區(qū)一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。

梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平讀數(shù)精度范圍廣 – 從0.005 mg到0.1 mg,量程范圍從54 g到520 g,涵蓋了所有分析工作流程。

Analytical Balances
什么是分析天平?
分析天平和半分析天平是一種形式的電子秤,用于以較高的精確度測量質(zhì)量。
其稱量量程范圍為54-520 g,讀數(shù)精度為0.005 mg - 0.1 mg。 分析天平的敏感性要求通過防風罩或防風柜對其進行保護。
梅特勒-托利多XPR和XSR分析天平配備了SmartGrid稱量盤,可大程度減小氣流擾動,因此縮短了穩(wěn)定時間,更快獲得稱量結(jié)果。

Analytical Balances - Applications - Pipette Calibration
分析天平用在什么位置? 分析天平的應用領域有哪些?
分析天平電子秤也稱為“實驗室天平”,可對樣品進行定量分析。 電子分析天平的典型應用包括:
樣品/標準液制備,
配方,
差重稱量
密度測定
間隔稱量
移液器日常測試
 
如何在分析天平上稱量?
開始稱量操作之前,打開門并使用手套或鑷子將容器放置到稱量盤上。 關門,等待表示重量的值穩(wěn)定。 按去皮按鈕直至其顯示0.0000 g,清除顯示內(nèi)容。 添加樣品,直到達到所需重量。 關門,再次等待穩(wěn)定 – 記錄凈重。 如果儀器斷開電源進行清潔,則留出重新校正時間,然后再重新使用。

梅特勒-托利多分析天平的防風罩幾秒之內(nèi)即可拆除,并且具有可安全使用洗碗機的面板,實現(xiàn)輕松清潔。 天平的清潔建議與規(guī)定
 
什么是分析天平不確定度?
進行測量時,總是存在不確定度元素。 對測量可疑度的估計(不確定度)是任何測量的關鍵。 這是通過測量天平性能、稱量物體的屬性以及周圍環(huán)境來確定的。 測量不確定度的確定是天平校準不可分割的一部分。

為什么校準分析天平?
分析天平校準可確保稱量設備既準確,又符合ISO、GLP/GMP、IFS與BRC等標準。 書面校準程序?qū)y量質(zhì)量進行了說明,應當在天平的整個使用期限內(nèi)定期校準。

校準不應與天平校正混為一談,必須在校正/維修之后重復進行校準。 了解校準的更多內(nèi)容。
 
如何校準分析天平?
分析天平的校準由授權服務技術人員使用校準軟件,遵循標準程序來執(zhí)行:
通過測試測量標準和校準指示之間的關系,來確定儀器的性能如何。
通過合格/不合格聲明驗證儀器是否符合特定要求。
如果不符合要求,則校正儀器,以便任何偏差都不會超過允差限值。
重新校準儀器,確認符合規(guī)定的允差要求。
在校準間隔之間的時間內(nèi),由用戶執(zhí)行的日常測試可檢測潛在問題。

梅特勒-托利多開發(fā)了一個用于保證稱量設備的正確選型、校準和操作的性科學標準,稱為GWP®,即Good Weighing Practice™。

 
哪些允差適用于天平校準?
允差用于確定天平或電子秤可否有效稱量,以達到一系列特定的工藝要求。 允差定義了發(fā)出通過/未通過聲明的標準。 允差源自各種來源,其中包括:

法定允差:
OIML R76或NIST手冊44(僅限美國)規(guī)定的法定允差用于評估合法貿(mào)易品要求。 此類允差非常大,使用實驗室天平或者在測量范圍的低端進行稱量時,可輕易達標。
制造商允差:
制造商允差確保設備滿足制造商規(guī)格。 制造商允差不考慮用戶的特定過程要求,因此不適合改進稱量過程。
過程允差:
特定過程允差由用戶定義,支持過程改進,節(jié)省材料,避免浪費和返工。 因此對于合法貿(mào)易應用中的電子秤,除法定允差外,還應使用過程允差。
法定允差可保護消費者但不考慮特定生產(chǎn)商的要求。 優(yōu)化應用于測量儀器的過程允差會對過程盈利能力產(chǎn)生巨大影響。

什么是分析天平小稱量值?
每個分析天平小稱量值都是不同的,具體取決于稱重傳感器的性能、其位置以及環(huán)境條件。 小稱量值是儀器的準確性限值,如果低于此小稱量值,相對測量不確定度(測量不確定度除以荷載,通常以%表示)則會大于所需的稱量準確性,稱量結(jié)果無法信任。
為了確定天平的小稱量值,需要在工作環(huán)境中評測測量不確定度。 另外,作為小稱重范圍天平中的一個主要誤差源,還可對可重復性進行評測以確定小稱量值,該過程使用低于天平量程5%的小砝碼執(zhí)行。

梅特勒-托利多分析天平的MinWeigh功能由經(jīng)過認證的技術人員安裝,用于監(jiān)測天平的小樣品重量。 如果稱量低于所確定的可接受小值,天平顯示屏則會變?yōu)榧t色。
 
分析天平準確性和精確性 – 兩者之間差別是什么,如何測試?
精確性指的是兩個或多個測量值之間的接近度。 準確性指的是測量值與已知值之間的接近度,它基于讀數(shù)精度、可重復性、非線性和偏載度。 準確性可使用以下方式進行測試:
具有已知質(zhì)量的外部參比砝碼(可追溯校準砝碼)
使用內(nèi)置到天平的參比質(zhì)量的自動內(nèi)部校正
準確性只能通過在使用位置對儀器進行的測試加以確定。
查看有關Good Weighing Practice的實驗室天平教程 – 基本知識和稱量影響課程。
 
靜電對分析天平有哪些影響,如何消除靜電負荷?
靜電負荷可能導致稱量結(jié)果不穩(wěn)定,不可重復。 靜電會對稱量盤產(chǎn)生作用力,直接影響分析天平結(jié)果。 減少這些影響的預防措施包括:
確保充足的空氣濕度(≥ 45%...50%)
盡可能使用防靜電稱量容器(是金屬)
避免摩擦容器
如果樣品足夠小,則使用帶邊緣的金屬盤來幫助屏蔽磁場。
要確保分析天平靜電消除,可在稱量之前使用去靜電裝置對樣品和容器進行放電。

 

梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平選型

電子天平 XPR205D5/AC
電子天平 XPR205DU/AC
電子天平 XPR206DR/AC
電子天平 XPR205/AC
電子天平 XPR205DR/AC
電子天平 XPR105/AC
電子天平 XPR105DR/AC
電子天平 XPR305D5/AC
電子天平 XPR204/AC
電子天平 XSR204/AC
電子天平 XSR304/AC
電子天平 XSR204DR/AC
電子天平 XSR104/AC
電子天平 XSR64/AC
Balance XSR105DU/AC
電子天平 XSR105/AC
電子天平 XSR205DU/AC
電子天平 XSR225DU/AC
電子天平MS104TS/02
電子天平MS204TS/02
電子天平MS304TS/02
電子天平ML54T/00
電子天平ML104T/00
電子天平ML204T/00
電子天平ML304T/00
電子天平ML104T/02
電子天平ML204T/02
電子天平ML304T/02
電子天平ML54T/02
電子天平MS105
Analytical Balance MS105/M
電子天平MS105DU
Analytical Balance MS105DU/M
電子天平MS205DU
電子天平MS204
Analytical Balance MS205DU/M
Analytical Balance MS204/M
Analytical Balance ME54T/02
電子天平ME104/02
電子天平ME104E/02
電子天平ME204/02
電子天平ME204E/02
電子天平ME54/02
電子天平ME54E/02

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