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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱:OLED、TFT LCD液晶平板顯示電路及材料測試

產(chǎn)品型號:

更新時間:2024-08-19

產(chǎn)品簡介:

專業(yè)為中國區(qū)用戶提供OLED、TFT LCD液晶平板顯示電路及材料測試儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

      專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上海)測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,由堅JET和 融YOO兩位技術(shù)工程師于2011年共同創(chuàng)立。志在破舊立新!*儀器設(shè)備測試行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售,不專業(yè)做售前儀器設(shè)備選型配置/測試方案系統(tǒng)搭建,不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)/維修保養(yǎng)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測試行業(yè)工作經(jīng)驗,專業(yè)為中國區(qū)用戶提供OLED、TFT LCD液晶平板顯示電路及材料測試儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

 

OLED、TFT LCD液晶平板顯示電路及材料測試描述
 對于OLED和OLED顯示器的性能,有幾個電指標(biāo)非常重要:
反向偏置漏電流
正向和反向偏置時的I-V掃描特性
顯示器像素的短路和開路測試
 上述測試將首先在單像素測試的敘述中進(jìn)行討論。通過使用開關(guān),可以對單像素測試進(jìn)行擴(kuò)展以實現(xiàn)不同尺寸多像素顯示器的測試。

 有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)顯示器采用了一種新穎的平板技術(shù)。它以有機(jī)材料涂層構(gòu)成一個p-n結(jié),當(dāng)注入的載流子復(fù)合時就會發(fā)光。在OLED顯示器中,每個OLED形成一個像素,每個像素縱向橫向排列形成一個矩陣。OLED可以是單色的(黑白
色),而疊層的OLED可以產(chǎn)生多種顏色。一個典型的彩色OLED是由RGB(紅、綠、蘭)像素構(gòu)成的。OLED可以分成有源(主動)矩陣和無源(被動)矩陣(兩者兼用或只用其一)。與有源尋址方式相比,圖1中所示的無源尋址方式比較簡單且成本
也較低,因而是小型顯示器較常用的方法。
 在研發(fā)和生產(chǎn)階段,顯示器的電特性測試包括對每個顯示像素的OLED I-V性能的測試、反偏漏電流的測試以及開路短路測試。OLED的I-V特性近似于二極管的I-V特性。但OLED還會呈現(xiàn)一些不同的特性,這是由于材料的無序性以及與高度規(guī)則的半
導(dǎo)體相比所顯示出的低得多的載流子遷移率。由此形成的空間電荷將產(chǎn)生無數(shù)的瞬態(tài)效應(yīng),其中的有些效應(yīng)在時間上覆蓋了好幾個數(shù)量級。由掃描電壓的方向和速度所產(chǎn)生的電流磁滯效應(yīng),也存在于OLED中。必須對這些效應(yīng)進(jìn)行正確的特征化和理
解,才可將DC測試結(jié)果與顯示器的品質(zhì)相關(guān)聯(lián)。
 這一應(yīng)用筆記將對幾個低成本無源OLED顯示器DC測量系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)介紹。這幾個系統(tǒng)可以滿足目前生產(chǎn)測試所要求的精度和高吞吐量。


反向偏置漏電流
 反偏漏電流測試中的測試設(shè)備、電纜、夾具的選擇,是由漏電流的大小量級和所需的測量精度決定的。漏電流簡單地講就是在特定的反向偏壓下流過器件的電流。既然是這樣,那么測試系統(tǒng)就必須能夠在器件兩端之間輸出一個穩(wěn)定的電壓,然后
能精確地測定相對很小的電流。對于某些產(chǎn)品,若測得的漏電流小于預(yù)先規(guī)定閾值(比如數(shù)十納安)便認(rèn)為產(chǎn)品合格。在這種情況下,用2400型源表進(jìn)行簡單的“合格/不合格”測試也就足夠了,可以達(dá)到10-8-10-9A的電流測量精度。如果使用一個帶有電壓源的靜電計、一個有恰當(dāng)保護(hù)的夾具和三同軸電纜,那就可以測試低到10-14A的電流。圖2是一個表示如何對單個OLED進(jìn)行反偏漏電流測量的接線圖。
正偏與反偏I(xiàn)-V特性 在“反偏漏電流”一節(jié)中描述的配置,也可以用來進(jìn)行正偏和反偏的電壓掃描與電流測量。2400型和6517A型都帶有由微處理器控制的雙極性電壓源。這就可以完成這樣的一個操作:
輸出一連串的電壓,同時測量相應(yīng)的電流,再把測試結(jié)果存入存儲器直到掃描完成。然后,把所有的測量數(shù)據(jù)下載到PC機(jī)進(jìn)行后處理。

Series 圖1:無源OLED(PMOLED)顯示器的結(jié)構(gòu)圖 圖2:源表測試OLED反偏漏電流的接線圖,用2400源表測試電流可以低至 10-8A;用6517A型靜電計可以測到10-14A。

顯示器測試
 對一個以像素陣列組成的顯示器進(jìn)行測試,需要自動對信號進(jìn)行路由切換,以便將電源切換至被測像素上。一種GPIB控制的開關(guān)系統(tǒng),例如7002可以對其內(nèi)部的二維繼電器開關(guān)掃描卡進(jìn)行控制。圖3中的結(jié)構(gòu)圖說明了如何把兩個多路復(fù)用(multiplex)掃描卡連接至一個被測顯示器,以此構(gòu)成一個40×40的陣列。在這個例子中,只使用了一個2400型源表,此外還使用了7015-C型1×40雙刀固態(tài)繼電器多路復(fù)用卡。7015-C屬于固態(tài)繼電器開關(guān),其切換時間小于500微秒,以保證大的測試吞吐率。當(dāng)使用2400型源表時,每個掃描卡的偏置電流遠(yuǎn)小于1nA,以使對漏電流的測量精度達(dá)到10-8-10-9A。僅采用一個源表的測試系統(tǒng)中,掃描卡上所有與行和列相連的繼電器就只需是單刀,將“高”端或“低”端連至顯示器行和列即可。
圖3:使用兩個7015-C掃描卡、一個40×40樣品顯示器和一個2400源表的連線圖。
 用兩個或四個源表而不用一個源表來搭建測試系統(tǒng),就保證了更高的吞吐率和更有效的開關(guān)資源利用。圖4a和4b表示了兩個和四個2400型源表通過7015-C的1×40多路復(fù)用卡與顯示器相連的情況。用了兩個或四個源表之后,就要把繼電器的“高”和“低”端全都連接到顯示器的列上。這一結(jié)構(gòu)允許在每個測試周期內(nèi)同時對兩個或四個像素進(jìn)行測試。
每個7015-C卡包含四組“A”、“B”、“C”、“D”;或者包含四個獨立的、雙刀1×10多路復(fù)用卡。當(dāng)使用兩個源表時,四個組的“高”輸入端被連在一起,并與1號源表相連;而四個組的“低”輸入端也被連在一起,再與2號源表相連。對于使用四個源表的系統(tǒng),A組和B組的“高”輸入端需要連在一起,A組和B組的“低”輸入端也要連在一起。然后把兩個1×20分線器與1號和2號源表相連。對于C組、D組以及3號、4號源表,采用相同的連接方式。
 一個應(yīng)用所需要的掃描卡的數(shù)量取決于顯示器的規(guī)模,也就是像素行與像素列的數(shù)量。采用7015-C型卡之后,每80列需要一塊掃描卡,以及每40行需要一塊掃描卡。按規(guī)定,7002型開關(guān)主板可以容納10個卡;如果需要10個以上的掃描卡,就可以對系統(tǒng)多加一塊7002型開關(guān)板。
 一個完整測試周期包括以下幾部分:相應(yīng)的繼電器閉合,把測試信號路由至被測像素,再由源表給出測試信號并進(jìn)行測量。利用測試儀中的固件對掃描進(jìn)行預(yù)編程的能力,大大減少了傳送到每個測試儀的SCPI命令的數(shù)量。這就使GPIB總線在
測試期間包括數(shù)據(jù)傳輸在內(nèi)的流量減到小。二進(jìn)制數(shù)據(jù)的格式化把每個測試周期內(nèi)所傳輸?shù)淖止?jié)數(shù)從17字節(jié)降到了4字節(jié)。2361型是一個帶有6路輸入與輸出的觸發(fā)控制器,其功能是對硬件觸發(fā)信號進(jìn)行處理,而這些硬件觸發(fā)信號則為2400型
源表的源測試操作、以及7002中的開關(guān)操作,提供了高速同步信號。7011-MTC-2型設(shè)備是一個特殊設(shè)計的多芯電纜,它把掃描卡的輸入輸出與測試夾具相連,而測試夾具上裝有7011-MTR型96針的連接器。依靠恰當(dāng)?shù)能浖?,開關(guān)系統(tǒng)可以支持對整個顯示器或單獨像素的漏電流、開路短路和I-V曲線的分析。
圖5是一個帶有四個2400、一個7002和一個2361的測試系統(tǒng)的連線圖。
 以10-12A的電流測量的精度和分辨率進(jìn)行自動化顯示器測試,就要求使用小于1pA漏電流額定值的掃描卡、有保護(hù)的測試夾具、若干低噪聲的同軸或三同軸電纜和一個高速靜電計,比如6517A型靜電計,而不用2400型。這一應(yīng)用中的7158型
1×10多路復(fù)用器的小電流掃描卡具有小于1pA(典型值為小于30fA)的偏置電流額定值,這就使6517A的小電流測試能力更加*。30V的操作范圍保證了使用同軸電纜使用的保護(hù)電路不會產(chǎn)生安全隱患。對于超過30V的應(yīng)用,可以用帶有三同
圖4:使用兩個7015-C型掃描卡和一個40×80樣品顯示器的連線圖,a)采用兩 個2400型源表,b)采用四個2400型源表。
軸電纜的7058型1×10多路復(fù)用器低電流掃描卡來代替7158型。7058型的每個卡的繼電器密度為7015-C型密度的25%(7058為1×10,而7015為1×40),所以,如果尺寸一定,就需要增加若干塊掃描卡才可適合顯示器的要求。此外,7158和7058的每個輸入端都有一個用保護(hù)端子圍住的觸點或HI接線端;與此不同的是,7015型的每個輸入端都有雙觸點的HI和LO接線端。7158型和7058型掃描卡的有保護(hù)的信號通路提供了*的低電流性能;但顯示器中只有一個列可以與每個繼電器相連,而7015-C掃描卡可以有兩列。其結(jié)果是,使用7158和7058卡,就要求每十行一塊卡和每十列一塊卡,這就大大超過了7015-C所要求的每40行一塊卡和每80列一塊卡的情況。
 6517A型靜電計使用同軸電纜連接到7158型掃描卡;當(dāng)使用7058掃描卡時需用三同軸電纜。在構(gòu)成更大陣列時,需用同軸或三同軸電纜把7158和7058卡連接起來,以形成一個用于顯示器每一邊的具有足夠扇出數(shù)的多路復(fù)用器。再用同軸或三同軸電纜把掃描卡的輸入/輸出連接到測試夾具。如果需要帶保護(hù)的操作,那就必須使用恰當(dāng)?shù)倪B接器,并對測試夾具內(nèi)部進(jìn)行隔離。關(guān)于精密低電流測量以及保護(hù)、穩(wěn)定時間對測試速度的影響等方面的進(jìn)一步內(nèi)容,可參閱“低電平測量”的當(dāng)前版本,這些文章由Keithley儀器公司發(fā)表,如有需要可免費提供。
測試夾具的設(shè)計與建造
 我們曾經(jīng)構(gòu)建了一個用于48×64 OLED陣列的測試夾具,用以研究以四個2400源表構(gòu)成的OLED測試系統(tǒng)的性能。電路板上的走線將3個安裝在夾具邊緣的7011-MTR 96針連接器與治具(jig)下方的接觸焊點相連;該治具由Delrin制造,顯示器就被置于其中。三條7011-MTC-2電纜把夾具連接到位于7002型儀器內(nèi)部的7015-C掃描卡。Silver ZEBRA 彈性連接器通過Delrin治具,提供了一條從電路板上的連接焊點到顯示器邊緣連接點之間、可靠、穩(wěn)定的低電阻連接通路。在顯示器被插入夾具內(nèi)并貼著X與Y基準(zhǔn)面放置后,再用四個蝶形

圖5:OLED特征化系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖,圖中使用了7002型掃描主板、2361型觸發(fā)控制器和四個2400型源表。 圖6:一個用于48×64顯示器的OLED測試夾具頂視圖 圖7:48×64 OLED顯示器的治具的詳細(xì)視圖
螺釘把框架固定其上,以使顯示器穩(wěn)妥可靠。治具內(nèi)下沉的深度和框架上螺絲的高度進(jìn)行合理設(shè)計、終不會對ZEBRA連接器上的顯示器觸點產(chǎn)生過大的壓力。圖6給出了完整夾具的頂視圖,而圖7給出了安裝在電路板上的治具的詳細(xì)視圖。


測量誤差的來源
 測量誤差的來源是由測試系統(tǒng)的精度、以及在對OLED給出信號和進(jìn)行測量期間所未曾想到的瞬態(tài)過程引起的。在進(jìn)行快速的生產(chǎn)測試時,在穩(wěn)定狀態(tài)下進(jìn)行精確DC測量的能力,是與盡可能快地完成測試的需求相互牽制的。測試周期的時間長短是
由源/測量以及開關(guān)操作組成的,而這一周期時間可以有非常大的變化范圍。比如,如果2400被設(shè)置成用短的測試時間間隔(aperture)完成操作,即0.01 NPLC,那么源/測量過程就可以在1ms內(nèi)完成。如果把積分(integration)周期或測量時間增加到1.0 NPLC,那么測量時間就增加到大約17ms。用犧牲測試速度來增加測試時間間隔的好處是,可以得到極優(yōu)的噪聲抑制,也就是在比較“安靜”的狀態(tài)下進(jìn)行測試。
 為了得到穩(wěn)定和可重復(fù)的測量,關(guān)鍵一點是被測參數(shù)在源/測量期間達(dá)到和保持在一個穩(wěn)定值上。這個概念對于OLED測試是特別重要的。OLED的電與光的特性是與時間有關(guān)的,而且呈現(xiàn)出滯后效應(yīng)1,2。與比較熟悉的基于半導(dǎo)體的光電發(fā)射器相
比,OLED的電特性則非常之不同。由于這個原因,我們在試圖設(shè)計和實現(xiàn)一個自動化測試系統(tǒng)之前,必須對測試參數(shù)的瞬態(tài)行為有一個完整的理解。瞬態(tài)過程的特性也有助于測試協(xié)議的開發(fā),并可簡化測試數(shù)據(jù)的分析,以及增進(jìn)對測試系統(tǒng)的可信度。信號源延遲時間,也就是,從把信號加到OLED至測量開始之間的這一可變的時間延遲,也許可以用來降低瞬態(tài)效應(yīng)。
圖8表示了在測試系統(tǒng)被設(shè)置為NPLC = 10以及信號源延遲從0.0005變化到10秒的條件下,對四像素同時測試時的每個像素的漏電流。為了達(dá)到小于1nA的穩(wěn)態(tài)漏電流,就至少需要數(shù)秒的時間。
 測試系統(tǒng)的測試性能取決于測試儀器的基本精度、以及由系統(tǒng)中其他元件引起的誤差源。電纜和開關(guān)卡的漏電流是電流測量的一個誤差源。對于測試夾具和電纜連線,這一誤差會隨著被測電流值的降低而增加。選擇正確的掃描卡,也就是
說,掃描卡的額定漏電流至少要比小的被測電流低一個數(shù)量級,該指標(biāo)非常關(guān)鍵。對于設(shè)計成用2400進(jìn)行10-8A測量的測試系統(tǒng),無需保護(hù)電路。
 采用兩線感出結(jié)構(gòu)的電壓測量誤差,是由掃描卡上使用的繼電器的“導(dǎo)通”電阻以及電纜的電阻壓降損耗產(chǎn)生的。7015-C卡上的兩個繼電器合起來,將對信號通路產(chǎn)生大 < 300Ω的電阻。對于小于50μA的電流測量,包含典型的電阻壓降損耗在
內(nèi)的電壓誤差將是很小的,其典型值為 < 15μV。對于較大的電流測量,比如當(dāng)顯示器的一整列被激勵時,誤差將正比于OLED的電流。這一數(shù)值也許可以用Verror = 2 * (Rrelay)×IOLED(s)來計算。那些要求電壓測量精度非常高的應(yīng)用,也就是,電壓測量不受DUT電流的影響,則需要一種四線測試結(jié)構(gòu)。
 7158型和7058型掃描卡上的機(jī)械繼電器有一個大約等于或小于1Ω的接觸電阻,由此引起的電壓誤差是可以忽略的,即使在大電流時也如此。對于這一應(yīng)用,由下述掃描卡的接觸電勢所引起的誤差也許也可看作是可忽略的;這些掃描卡的接觸
電勢是:7015-C為 < 5mV,7058和7158分別為 < 250μV和 <200μV。
測試系統(tǒng)的測試性能
 我們曾對采用四個2400的測試系統(tǒng)的測試速度、小電流和小電壓測量精度,在一系列不同的測量時間間隔條件下(即不同的NPLC設(shè)定參數(shù))進(jìn)行過特征化測試。NPLC參數(shù)與測試時間間
隔有如下關(guān)系式
測試時間間隔(秒)= 1/60(NPLC參數(shù))
圖9表示了2400型源表NPLC值從0.01到1.0時,在10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A量程內(nèi)的低電流測量性能。測試電流的大小接近每個量程的大值,而每個測量點則代表100次測量的標(biāo)準(zhǔn)差。測試結(jié)果表明,對于每一個很短的積分(integra?tion)時間,即 < 0.1 NPLC,在10-2A、10-3A和10-4A量程下,電流測量的標(biāo)準(zhǔn)差小于滿量程的0.005%,而在10-5A和10-6A量程下小于0.08%。在10-5A和10-6A量程下以高測試速度測量時,±3σ的測試可重復(fù)性達(dá)到了< 2nA。圖10表示了一個以四個2400構(gòu)建的測試系統(tǒng)的測試吞吐率的測量結(jié)果(該結(jié)果表示為NPLC設(shè)定值的函數(shù))。
圖8:四像素測試時每個像素的反向偏置電流,其中源/測量時間延遲從 0.0005變化到10秒,使用6V偏壓。 圖9:2400源表的電流測量值的標(biāo)準(zhǔn)差與NPLC的關(guān)系曲線,其中的測試量程為 10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A。
 當(dāng)用于單個像素的開路、短路測量時,2400被配置成一個電流源,然后進(jìn)行電壓測量。PC機(jī)通過電流源輸出值和電壓測量值計算出電阻。這一技術(shù)直接使用了2400進(jìn)行電阻測量,從而縮短了與電阻測量有關(guān)的測量時間。測量精度接近或小于0.2%
,而這一性能水平對于“合格或不合格”的測試是足夠了。它的測試吞吐率為漏電流測試速度的百分之幾。
 在對電纜、掃描卡和夾具的設(shè)計中使用保護(hù),可大大降低漏電流,而且能夠為基于6517A型靜電計和7158、7058型掃描卡的系統(tǒng),實現(xiàn)低電流的測量提供支持。加保護(hù)的信號通路縮短了與低電流測量所需的較長穩(wěn)定時間,這進(jìn)而又縮短了測試時
間。即使采用了保護(hù)電路,6517A的測量速度仍比不上2400,所以它的吞吐率將會低一些。
 可以采用四個6517A和低電流掃描卡組成的系統(tǒng)進(jìn)行一次性能研究,但由于測試夾具和電纜走線對測試系統(tǒng)有很大的影響而使此項研究未能實現(xiàn)。這些部件通常是客戶提供的,而漏電流的大小可以有非常大的變化范圍,這就影響到了低電流性能
和測試穩(wěn)定時間。


顯示器的測試結(jié)果
 為了說明實現(xiàn)這一測試方案所達(dá)到的結(jié)果,我們用四個源表的測試系統(tǒng)對一個48×64的OLED顯示器進(jìn)行了正向電流、電阻和反向偏置的測量。測量速度被設(shè)定為1個NPLC(即,積分時間 = 16.7毫秒),并有1秒的信號源延遲。該延遲可以保證在測試開始前信號達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。圖11給出了對一個認(rèn)為有缺陷的顯示器的像素電阻的測試結(jié)果。測試數(shù)據(jù)表明幾乎所有的像素都有相對很高的“導(dǎo)通”電阻,即 > 100kΩ。其中的兩個像素有非常低的電阻,一個位于第3行第60列,測得的電
阻約為1kΩ;另一個位于第4行第37列,測得的電阻在1kΩ與100kΩ之間。實際的動態(tài)電阻可以計算為 Rd = Vpixel / Ipixel
式中的Vpixel和Ipixel分別是像素的電壓和電流。在2V偏壓下,典型的像素電流大約為20nA,這相當(dāng)于一個108Ω的動態(tài)電阻。因此,這兩個動態(tài)電阻位于1kΩ與100kΩ之間的像素看來是有缺陷的。
 圖12示出了另一個顯示器的正向電流損耗與像素之間的關(guān)系,其中的Vbias = 6V。幾乎所有的像素都表現(xiàn)出大約11-13μA的正向電流損耗。對2400型源表設(shè)定了1mA的正向電流限值(compliance)或保護(hù)電流值,以防止對顯示器流過太大的電流
而造成損壞。
 為了對測試系統(tǒng)中每一個信號通路的漏電流的殘余測量誤差進(jìn)行測量,就需要把一塊尺寸與OLED顯示器*一樣的玻璃片插入測試夾具內(nèi)。然后在施加Vbias = -6V的偏壓后作一次掃描。圖13給出了這個掃描的結(jié)果。在任何一個像素位置上的電纜、繼電器和測試夾具的漏電流總和均小于80pA。在這些測試中,還考慮到了每個2400的“零點誤差”;所謂“零點誤差”
是指在0V偏壓下的電流偏離值。
圖10:采用四個2400的OLED特征化系統(tǒng)的測試吞吐率 圖11:電阻與像素的關(guān)系圖,所加的偏壓為Vbias = 2V 圖12:電流消耗與像素的關(guān)系圖,所加的偏壓為Vbias = 6V
圖14給出了在Vreverse = 6V下的反偏測量的結(jié)果。對于這個測試,由于考慮到了圖9中所示的時間效應(yīng)對于反偏漏電流的影響,我們把積分時間設(shè)置為10 NPLC,把信號源延遲時間設(shè)置為15秒。


設(shè)備清單
707B六槽半導(dǎo)體開關(guān)矩陣,具有高達(dá) 576 個相交點
四個2400系列源表
2361型觸發(fā)控制器
五條8503型DIN至BNC的觸發(fā)電纜
六條GPIB電纜
7015-C型固態(tài)繼電器1×40多路復(fù)用開關(guān)(每80顯示列用1卡,每40顯示行用1卡)
7011-MTC-2型多端子電纜集線器(mass terminated  cable assemblies)(每個7015-C卡用一個)
 7011-MTR型 96針DIN公頭(每個7011-MTC-2用一個)

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